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可見光禁帶寬度範圍

禁帶寬度是指固體(ti) 材料中光的能量不能通過的能帶範圍。以下是對可見光禁帶寬度的詳細解釋:

一、不同材料的禁帶寬度與可見光的關係

  1. 導體(ti)

    • 導體(ti) 的禁帶寬度為(wei) 零,因為(wei) 它們(men) 的電子能帶中存在自由電子,電子可以容易地移動。

    • 因此,可見光對於(yu) 導體(ti) 來說並沒有明確的禁帶寬度。

  2. 絕緣體(ti)

    • 絕緣體(ti) 的禁帶寬度較大,一般大於(yu) 3電子伏特(eV)。

    • 因此,可見光對絕緣體(ti) 而言也沒有明確的禁帶寬度。

  3. 半導體(ti)

    • 半導體(ti) 的禁帶寬度通常在1至3電子伏特之間。

    • 可見光的能量範圍大約為(wei) 1.65至3.10電子伏特,因此可見光對應的禁帶寬度主要分布在半導體(ti) 材料中。

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二、半導體禁帶寬度的具體實例

  • 對於(yu) 氧化物半導體(ti) 材料,其禁帶寬度一般大於(yu) 3.1eV。例如,常見的In2O3、SnO2和ZnO,其光學禁帶寬度分別為(wei) 3.75eV、3.8eV和3.2eV。由於(yu) 它們(men) 的禁帶寬度大於(yu) 可見光的能量範圍,因此這些氧化物半導體(ti) 對可見光是透明的。

三、禁帶寬度的計算方法

在實際科研和應用中,對禁帶寬度的測量是研究半導體(ti) 材料性質的基本手段。禁帶寬度可以通過多種方法測得,其中光譜測試法是常用方法之一。通過光譜測試法測得的禁帶寬度被稱為(wei) 光學帶隙。

  • 截線法:基於(yu) 半導體(ti) 的帶邊波長(吸收閾值λg)與(yu) 禁帶寬度Eg之間的數量關(guan) 係(Eg=1240/λg)進行計算。

  • Tauc plot法:基於(yu) Tauc、Davis和Mott等人提出的公式((αhν)1/n=B(hν-Eg))進行計算,其中α為(wei) 吸光係數,h為(wei) 普朗克常數,ν為(wei) 頻率,B為(wei) 常數,Eg為(wei) 半導體(ti) 禁帶寬度,指數n與(yu) 半導體(ti) 類型直接相關(guan) (直接帶隙n=1/2,間接帶隙n=2)。

綜上所述,可見光禁帶寬度範圍主要存在於(yu) 半導體(ti) 材料中,其範圍與(yu) 半導體(ti) 的具體(ti) 類型有關(guan) 。對於(yu) 氧化物半導體(ti) 等寬帶隙材料,其禁帶寬度通常大於(yu) 可見光的能量範圍,因此對可見光是透明的。