晶矽實驗室
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及時、專業的方案,滿足不斷發展的流體自動化市場對創新、可靠和速度的要求

太陽能電池片PL檢測儀 DP100

1:高像素CCD相機:500W,成像速度<1S/Pcs

2:專(zhuan) 業(ye) 級的光學濾光片,無接觸式成像

3:可檢測缺陷類型:隱裂/碎片/低效率片/燒結網紋/材料缺陷


太陽能電池片PL檢測儀(yi) DP100利用特定激光器,經光學係統得到方形激光光斑,光斑麵積達230mmX230mm。在激光光斑作用下,矽片或電池片激發出紅外光,經紅外相機采集矽片或電池片的紅外圖像,利用紅外圖像進行缺陷檢測。

該PL檢測儀(yi) 適用於(yu) 單晶或多晶的矽片和電池片,可獨立成設備,也可嵌入產(chan) 線,進行在線檢測。可檢測的缺陷包括黑心、黑邊、黑團塊、隱裂、裂紋、碎片、低效片、黑線、缺角、崩邊等。該係統采用深度學習(xi) 與(yu) 人工智能算法,可實現單晶和多晶的各種缺陷自動識別。


測試對象:PERC、TOPCon、HJT等晶矽類電池的測試和結果記錄及導出。



設備名稱

太陽能電池片PL檢測儀(yi) DP100

測試麵積

230*230mm

工作節拍

0.5s/pcs

閃光時間

0.1~1S(可調)

激光波長

808nm

相機分辨率

500W像素

相機類型

CCD

設備尺寸

占地麵積為(wei) :2000mm*800mm*1750mm